O3測試儀的測試工作基本遠離有半導體材料工作基本遠離（英倫E2V）、電藥劑學測試工作基本遠離、紅外光譜光法工作基本遠離等。這里的主要來解紹的是五種步驟，即紅外光譜光法。

公司要知道白矮星美觀層處有頂層O3層，科學課家們現在已經發現了O3層能吸引分光光度計線，研究講解揭示O3僅對光譜253.7nm的分光光度計線包括*大吸引指數，還有光譜下分光光度計線分為O3會行成衰減，具有蘭波特——比爾法則。該措施已被新加坡等地方充當O3標準講解措施。該O3測試儀即使分為分光光度計線吸引法的遠離，用不穩定性的分光光度計燈源源行成分光光度計線，用光波活性炭濾水板活性炭濾水掉所有光譜分光光度計光，只能接受光譜253.7nm分為。路過了樣本微電子感應器器，再路過了O3吸引池后，達到取樣微電子感應器器。分為樣本微電子感應器器和取樣微電子感應器器鐵通號會比較，再路過了數學題仿真模型的統計，就能測出O3氧化還原電位面積。

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